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● 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查● LCR模式下最快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量● 基本精度±0.08%的高精度测量● 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量● 分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量● 可以用于无线充电评价系统TS2400
一台仪器即可实现LCR测量、DCR测量、扫频测量的连续测量和高速测量
IM3570包括：
电源线×1，使用说明书×1，通讯手册×1
保修期：三年
阻抗分析仪IM3570技术资料
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